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安規電容 (X/Y) 深度解析:自癒機制、失效模式與殘留電壓放電測試
安規工程師必讀。深入解析 X 電容與 Y 電容的物理分類邏輯(防火 vs 防電擊),探討金屬化薄膜的自癒現象,以及如何解決拔插頭瞬間的殘留電壓放電與待機功耗的衝突(IEC 62368-1)。
5天前


接觸電流深度解析:IEC 60990 量測網路、生理效應與高頻挑戰
安規工程師必讀。深入探討接觸電流(Touch Current)的生理機制(感知、擺脫閾值),解析 IEC 60990 加權量測網絡(U1/U2)原理,以及 Y 電容與高頻開關電源設計中的安規與 EMI 權衡。
1月26日
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