深入解析 IEC 62368-1 單一故障條件（Single Fault Condition）測試。探討元件失效模擬（短路/開路）的選擇邏輯、光耦合器開路與風扇堵轉的物理後果，以及如何判定連鎖效應與失效安全（Fail-Safe）。