深入解析 IEC 62368-1 單一故障條件（Single Fault Condition）測試。探討元件失效模擬（短路/開路）的選擇邏輯、光耦合器開路與風扇堵轉的物理後果，以及如何判定連鎖效應與失效安全（Fail-Safe）。

深入探討 Hi-Pot 測試背後的物理原理（電子雪崩），解析 AC 與 DC 測試在電壓峰值與電流構成上的本質差異，以及如何正確區分真實擊穿與電容性誤判。

安規工程師必讀。深入探討接觸電流（Touch Current）的生理機制（感知、擺脫閾值），解析 IEC 60990 加權量測網絡（U1/U2）原理，以及 Y 電容與高頻開關電源設計中的安規與 EMI 權衡。

安規工程師必讀。深入探討接觸電流（Touch Current）的生理機制（感知、擺脫閾值），解析 IEC 60990 加權量測網絡（U1/U2）原理，以及 Y 電容與高頻開關電源設計中的安規與 EMI 權衡。